В наявності
Швидка доставка:
Способи оплати:
Безкоштовна консультація наших фахівців: Отримати консультацію
Технічні дані | NIRS XDS MasterLab Analyzer |
---|---|
Режим вимірювання | Пропускання та відбиття |
Діапазон довжини хвилі | 400 - 2500 нм (відображення); 800 - 1650 нм (пропускання) |
Детектори | Силікон (400-1100 нм), сульфід свинцю (1100-2500 нм), InGaAs (Арсенід галію-індію) 800 - 1650 нм |
Точність установки довжини хвилі (стандарт) | < 0.05 нм (SRM 1920); <0.05 нм (стандарт Metrohm) |
Погрішність установки довжини хвилі (на одному пристрої) | < 0.005 нм |
Погрішність установки довжини хвилі (на групі приладів) | < 0.020 нм |
Шум | Відображення: 400 - 700 нм: < 50 мікро о. е.; 700 - 2500 нм < 20 мікро о. е.; Пропускання: 850 - 1100 нм < 30 мікро о. е., 1100 - 1600 нм <20 мікро о. е. |
Смуга пропускання | Відображення: 8.75 ±0.10 нм Пропускання: 9.50 ±0.10 нм |
Вага | 39,0 |
Габарити | 380 х 346 х 559 мм |
Замовити дзвінок
Швидке оформлення замовлення
Замовити дзвінок
Наявний рейтинг: 5 из 5
Будь ласка вибиріть бажану оцінку:
Замовити дзвінок
Виберіть мову