В наявності
Швидка доставка:
Способи оплати:
Безкоштовна консультація наших фахівців: Отримати консультацію
Технічні дані | NIRS XDS SmartProbe Analyzer |
---|---|
Режим вимірювання | Пропускання та відбиття |
Діапазон довжини хвилі | 400 - 2500 нм |
Детектори | Силікон (400-1100 нм), сульфід свинцю (1100-2500 нм) |
Точність установки довжини хвилі (стандарт) | < 0.05 нм (SRM 1920) |
Погрішність установки довжини хвилі (на одному пристрої) | < 0.008 нм |
Погрішність установки довжини хвилі (на групі приладів) | < 0.025 нм |
Шум | 400 - 700 нм: < 80 мікро о. е.; 700 - 2500 нм < 30 мікро о. е. |
Смуга пропускання | 8.75 ±0.10 нм |
Вага | 34,0 |
Габарити | 455 х 346 х 559 мм |
Замовити дзвінок
Швидке оформлення замовлення
Замовити дзвінок
Наявний рейтинг: 5 из 5
Будь ласка вибиріть бажану оцінку:
Замовити дзвінок
Виберіть мову